Beschreibung
Kompakte optische Testplattform MAP-220C und LightDirect Familie
Neuausstattung optischer Herstellertesteinrichtungen, Entwicklungslabors und Universitäten für die aktuelle Bandbreitenexplosion.
Im Rahmen des Engagements zur Verbesserung der optischen Geräte, Module und Subsysteme zur Steigerung der Effizienz der Hersteller und Entwicklungslabore hat Viavi eine neue, kompakte optische Plattform sowie die LightDirect Familie entwickelt.
Die kompakte optische Testplattform MAP-220C von Viavi (ehemals JDSU) das kompakte 2-Slot Chassis reduziert im Rahmen einer etwaigen 100 und 400 G Erweiterung den benötigten Stellplatz sowie die Kosten für neue optische Transponder- und Subsystemteststationen signifikant.
Die kompakte optische Testplattform unterstützt die mOSW Switch Familie sowie eine große Auswahl von weiteren optischen Modulen.
MAP LightDirect Familie unter Einbeziehung der wichtigsten Testmodule misst und verwaltet die kompakte optische Plattform Testsignale in einer automatisierten Umgebung.
Neue Module der kompakten optischen Testplattform
Optische Switche:
Der mOSW-C1 ist in den Punkten Einfügedämpfung und Wiederholgenauigkeit in der Industrie führend. Mit über 80 Variationsmöglichkeiten gibt es für jede Applikation die geeignete Lösung von 1 x 2, 2 x 2 und 1 x 4 bis 1 x 64 mit optionaler interner Leistungsmessung, Richtungserkennung und Dämpfungsmöglichkeit.
Abschwächer:
Die variable Abschwächerfamilie mVOA ist in punkto technischer Daten in der Industrie seit mehr als 20 Jahren führend. Verfügbar als 1, 2 oder 4 Kanal-Abschwächer per Modul, mit oder ohne Leistungsmessmöglichkeit ist der mVOA-C1 die kompakteste Lösung am Markt.
Leistungsmesser:
Die optischen Leistungsmesser mOPM-C1 sind für alle Applikationen mit 1, 2 oder 4 Eingängen in vier verschiedenen Klassen verfügbar. Die Module unterstützen bis zu +27 dBm Eingangsleistung mit einem Dynamikbereich von bis zu 110 dB.
Quellen:
Der 50 GHz tunable DFB Laser mTLG-C1 ist für das C- und L-Band verfügbar, während der mSRC-C1 die Standard Telekomwellenlängen 850, 1300, 1310, 1490, 1550 und 1625 nm abdeckt.
Wichtige Vorteile der kompakten optischen Testplattform
Die kompakte optische Testplattform reduziert den Platzbedarf auf bis zu ein Viertel für die Signalaufbereitung von Tests an Transpondern und aktiven Komponenten sowie Switch-Herstellern, welches die Kosten für zusätzliche Stellflächen, Fracht und Wartung ebenfalls reduziert.
Die Chassis Kosten werden von der kompakten optischen Testplattform um 40 % reduziert. Dies erleichtert die Umrüstung von bestehenden Testsystemen, was das Verifizieren der komplexeren Komponenten und Subsystemen ermöglicht.
Die kompakte optische Testplattform erhöht die optische Performance und Wiederholgenauigkeit mittels Reduzierung des Eigenfehlers des Testaufbaus, Verbesserung der Durchsatzrate und der Gewährleistung zuverlässiger Testergebnisse.
Anwendung der kompakten optischen Testplattform
Da an neue optische Komponenten und Subsysteme immer höhere Anforderungen gestellt werden, muss auch die Messtechnik hier mithalten. Die Möglichkeit effektiv und genau zu messen, während weiterhin die Gesamtkosten zu reduzieren sind, erfordert innovative Ansätze. Die Labor- und Herstellerplattformlösung bietet diese herausfordernde Kombination an erhöhtem Durchsatz, kleinerer Stellfläche und größerer Testflexibilität, um für Tests an Sub 10 G bis zu 400 G Systemkomponenten gerüstet zu sein. Eine Umrüstung der bestehenden Testlösung bietet Ihnen bereits schon heute einen eindeutigen Wettbewerbsvorteil und vor allem in naher Zukunft.