Optische Testplattform von Viavi - 3. Generation

Beschreibung

Optische Testplattform MAP (Multiple Application Platform) von Viavi

Die optische Testplattform MAP-300 von Viavi ist eine flexible Lösung, optimiert für eine kostengünstige Entwicklung und Fertigung von optischen Übertragungseinrichtungen im Labor und in der Produktion. Der heutige sich schnell verändernde Markt erfordert Investitionen in produktionssteigernde Technologien und Tools. Die optische Testplattform MAP-300 ist durch die Skalierbarkeit das richtige Gerät, um auch der anspruchsvollsten Umgebung gerecht zu werden.

Basierend auf der Vorgängerlösung (MAP und MAP-200), bietet die modulare Messgeräte Plattform MAP-300 das umfassendste Portfolio an Modulen in einer kompakten, konfigurier- und skalierbaren Bauform an.

Optische Testplattform für Laboranwendungen

Die MAP-300 Plattform ist für Anwendungen im Labor und der Fertigungsumgebung optimiert. Die Anwendungen reichen von Dämpfungsmessungen bis hin zu Dispersionsmessungen in 100+Gbit/s Umgebung.

Gehäusebauformen der optischen Testplattform

Im Bereich der Gehäusebauform gibt es eine reiche Auswahl, welche vom 3-Slot Benchtopgehäuse mit Statusdisplay bis hin zu unterschiedlichen 3 und 8-Slot 19"-Gehäuse zur Rackmontage reichen.

Die Einschubmodule umfassen Lichtquellen, optische Verstärker, Detektoren, optische Abschwächer, optische Schalter, Leistungsmesser, Reflektionsmesser und passive Komponenten.

Hauptmerkmale der optischen Testplattform MAP

• Rackmount- und Bechntop-Gehäusevarainten
• HTML basierte grafische Benutzeroberfläche
• Im Feld austauschbarere Kontroller beinhaltet 3.5 Zoll LCD Touchscreen für Netzwerk und Systemstatus
• Unterstützung für USB 3.0 Port, 15,6 Zoll externer Touchscreen und Ethernet
• optionaler GPIB-Port, zusätzlicher Ethernet-Port und zusätzliche USB und Trigger-Module
• SCPI Schnittstelle für die Automatisierung mit Unterstützung der Fernprogrammierung via TCP/IP (LX) über Ethernet, GPIB und direkt Anschluss
• Multi-User-Fähigkeit
• Hot-swappable Module
• kompatibel zu bestehenden MAP-2xx-Modulen

Lichtquellen und optische Verstärker für die optische Testplattform MAP

• MAP-Durchstimmbarer Laser mTLG-C2 und mTLS-C1
  
• MAP-Lichtquellen mSRC-C2 - Neu: ergänzt um 6 weitere Lichtquellenmodule
  
• MAP-Breitbandquelle mBBS-C1
• MAP-Halbleiterlaserverstärker mEDFA-C1

Optischer Schalter für die optische Testplattform MAP

• MAP-Schaltermodul (1xN) mOSW-C1/mISW
• MAP-Cross Connect Schaltermodule (MxN) mOSX-C1

Optische Signalkonditionierung

• Neu: MAP-variabler Back-Reflektor mVBR-C1
• MAP-Präzisionsabschwächer mVOA-C1
  
• MAP-Utility mUTL-C1
• MAP-Polarisationscrambler mPCX-C1 jetzt auch mit O-Band oder als  HighSpeed Scrambler
  
• MAP-durchstimmbarer Filter mTFX-C1

Optische Leistungspegel und spektrale Messungen

• MAP-Leistungsmessgerät mOPM-C1 jetzt auch mit Remote Head für Messungen an MPO Steckverbindern
  
• MAP-hochauflösender OSA mHROSA-A1