Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.
Messtechnik
Fluoresence microscopy
Fluoresence microscopy
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Messtechnik
Die Messtechnik mit Lasern ist außerordentlich präzise und wird bereits häufig verwendet. Da beim Gebrauch mit einem Laser kein Kontakt mit dem Messobjekt herrscht, kann auch auf weiche, klebrige, heiße oder sonstige empfindliche Oberflächen gemessen werden. Der erste Schritt für einen perfekten Innenausbau sind präzise Vermessungen. Lasermessgeräte erleichtern die Arbeitsabläufe, ermöglichen eine exakte Übertragung von Prozesswerten und steigern die Produktivität durch enorme Zeit- und Kostenersparnis. Laser 2000 bietet hochpräzise, kompakte und robuste Lasermessgeräte.
IMPATT-Dioden sind Hochleistungs-Sub-THz-Strahlungsquellen.
Mit Hilfe der UV-Konverteroptiken ist die Bestimmung der Intensitätsverteilung von UV-Laserstrahlung mit Beam Profilern der WinCamD-Serie aber auch mit "normalen" CCD oder CMOS-Kameras möglich.
IR-Konverteroptik für Beam Profiler zur Messung von Intensitätsverteilung im NIR Bereich zwischen 1480 und 1605 nm.
Das Scanningsystem BeamR von DataRay mit rotierenden Schlitzen für die Vermessung von Lasern mit Durchmessern von 2 µm bis über 4 mm.
Dieser optische Strahlreduzierer zum Anschluss an den C-Mount einer WinCamD-Strahlanalysekamera wird verwendet, wenn der Strahldurchmesser des Lasers deutlich größer ist als der Sensorchip oder der Taper.
Die THz-Kamera ist eine flexible Terahertz-Imaging-Lösung für Wissenschaft und Industrie.
Der Laser Beam Profiler BeamMap ermöglicht durch die patentierte Multiplane-Scanning Methode die Vermessung der Fokuslage, des Durchmessers (nach ISO 11146), der Divergenz und des M2-Faktors von Lasern in Echtzeit.
M²-Messoption für Dataray Beamprofiler zur Messung nach ISO11146.
Laser Beam Profiler mit faseroptischem Taper zur Charakterisierung großer Laserstrahlen bis 25 mm x 25 mm.
Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.
Das Laserlinien Profiling System (LLPS) ist ideal für die Analyse von Laserlinien bis 200 mm Länge und einer minimalen Breite von 55 µm.
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Laser 2000 unterstützt Sie, in Zusammenarbeit mit XENLUX, bei Neu- und Weiterentwicklung individueller faseroptischer Komponenten und Subsystemen oder bei der Optimierung bestehender Applikationen. Langjährige Erfahrung garantieren ein verzögerungsfreies Prototyping und damit ein zügiges Time-to-Market.
