Die OEM Raman-Entwicklungsplattform von B&W Tek beinhaltet einen stabilisierten Laser und ein gekühltes, CCD-basiertes Spektrometer.
Optische Messtechnik
Fluoresence microscopy
Fluoresence microscopy
Kollimationslinse CLA-SMA aus Quarzglas für den UV-VIS-NIR Bereich
Reflexionsstandard für Referenzmessungen bestehend aus PTFE
Das Laserlinien Profiling System (LLPS) ist ideal für die Analyse von Laserlinien bis 200 mm Länge und einer minimalen Breite von 55 µm.
Faseroptischer Kosinuskorrektor mit breitem Spektralbereich
MIt dem polarisationserhaltende Strahlteiler können Strahlen hoher Leistungen abgeschwächt werden ohne die Polarisation des Laserstrahls zu verändern.
Faseroptische Tauchsonden für den spektralen Bereich von 190 - 1100 nm
Faseroptische Reflexionssonde bestehend aus einem Bündel von 7 optischen Fasern in einer Edelstahl-Ferrule
Übersicht diverser Abschwächeroptionen wie absorbierende und reflektierende Neutraldichte-Filter, sowie polarisationserhaltende, kompakte und variable Abschwächer.
TFA-Lichtwellenleiterbündel kombiniert Lichtwellenleiter an einem gemeinsamen Ende mit dem Lichtwellenleiterbündel in drei separaten Kanäle, die mit Standard-SMA-905-Steckern abgeschlossen werden.
Der Laser Beam Profiler von DataRay verfügt über einen CQD Sensor, welcher im Bereich von 400 - 1700 nm empfindlich ist und Auflösungen von bis zu 1920 x 1080 Pixel bietet.
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Deutsche Telekom konform nach der KVZ 43
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Das 3-Achsen Spleißgerät mit Kernzentrierung von Inno Instrument bietet ein 5-Zoll-Farb-LCD-Touchscreen. Es verfügt über eine schnelle Aufheizzeit (13 sec.) und Spleißzeit (7 sec.) und ist Deutsche Telekom konform nach KVZ 43.
Laser 2000 unterstützt Sie, in Zusammenarbeit mit XENLUX, bei Neu- und Weiterentwicklung individueller faseroptischer Komponenten und Subsystemen oder bei der Optimierung bestehender Applikationen. Langjährige Erfahrung garantieren ein verzögerungsfreies Prototyping und damit ein zügiges Time-to-Market.
